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掩模版自动化设计
FAR
支持半导体器件电学特性测试、器件模型参数自动提取和优化。
适用于各种半导体器件不同电学/物理/版图等特性建模。
内嵌并行NanoSpice仿真器,支持最新版CMC行业标准SPICE器件模型,并全面支持Verilog-A和子电路模型。
被广泛应用于半导体行业先进工艺制程节点如28nm、14nm、10nm、7nm、5nm和3nm等工艺研发。
被众多行业领先客户长期应用于半导体芯片制造工艺开发和先进集成电路设计。
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